- 商品名稱(chēng)：微焦點(diǎn)X射線(xiàn)檢測裝置
- 商品編號：SMX-800
- 品牌：島津分析儀器
- 上架時(shí)間：2019-06-20
- 商品毛重：0克
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可用于高密度封裝基板和BGA、CSP、系統LSI等鍵和情況的高倍率非破壞透視檢查，特別適合于IC封裝檢查、元器件生產(chǎn)和PCBA等產(chǎn)品。對單體和模組進(jìn)行三維無(wú)損觀(guān)察、缺陷檢測，應用于實(shí)驗室，工廠(chǎng)流水線(xiàn)檢測，非常簡(jiǎn)單的操作。
觸摸屏顯示器及控制桿、直觀(guān)的用戶(hù)界面、新設計的高速載物臺，都大大減少了檢查時(shí)啟動(dòng)程序所用時(shí)間。誰(shuí)都可以簡(jiǎn)單迅速地觀(guān)察、檢測到基板及電子零部件內部的細微缺陷。
?顯示器使用大型觸摸屏，用手指觸摸，直接進(jìn)行定位，擴大，縮小等各種操作。任何人均能立刻掌握操作方法，效率也得以提高。
?從放置樣品到快速移動(dòng)到要觀(guān)察的位置高速移動(dòng)，很大限簡(jiǎn)化檢查程序，大幅縮短檢查時(shí)間。
?精巧設計，可實(shí)際體驗效果。
?提高檢查效率的便利功能。
?可得到更加鮮明、且無(wú)失真的圖像。
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